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EBS di risoluzione del microscopio elettronico a scansione di ingrandimento 8X-800000X 1.5-3nm

Certificazione
Cina Phidix Motion Controls (Shanghai) Co., Ltd. Certificazioni
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EBS di risoluzione del microscopio elettronico a scansione di ingrandimento 8X-800000X 1.5-3nm

EBS di risoluzione del microscopio elettronico a scansione di ingrandimento 8X-800000X 1.5-3nm
EBS di risoluzione del microscopio elettronico a scansione di ingrandimento 8X-800000X 1.5-3nm EBS di risoluzione del microscopio elettronico a scansione di ingrandimento 8X-800000X 1.5-3nm EBS di risoluzione del microscopio elettronico a scansione di ingrandimento 8X-800000X 1.5-3nm EBS di risoluzione del microscopio elettronico a scansione di ingrandimento 8X-800000X 1.5-3nm

Grande immagine :  EBS di risoluzione del microscopio elettronico a scansione di ingrandimento 8X-800000X 1.5-3nm

Dettagli:
Luogo di origine: La CINA
Marca: Phidix
Certificazione: IATF16949,CE
Numero di modello: M22005
Termini di pagamento e spedizione:
Quantità di ordine minimo: Negoziabile
Prezzo: Negotiable
Imballaggi particolari: 1 scatola di PC/Wooden
Tempi di consegna: 40 giorni del lavoro
Termini di pagamento: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union
Capacità di alimentazione: 10 PCS/Month

EBS di risoluzione del microscopio elettronico a scansione di ingrandimento 8X-800000X 1.5-3nm

descrizione
Colore: bianco Personalizzazione: OEM, ODM
Imballaggio: 1 PC/Carton Garanzia: 1 anno
Tempo d'esecuzione: 40 giorni del lavoro Capacità di alimentazione: 10 PCS/Month
Risoluzione: 1.5nm, 3nm Ingrandimento: 800000X
Tensione accelerante: 0~30KV Rilevazione di segnale: Ultra rivelatore elettronico secondario di vuoto (con la funzione di perotection del rivelatore)
Cannone elettronico: Cannone elettronico dell'emissione di campo di Schotty Dimensione di Max Sample: 340mm di diametro, 50mm dell'altezza
Funzione automatica: Fuoco, luminoso/contrasto, Stigmator, allineamento ecc Sistema di vuoto: 2 Ion Pump, 1TMP, 1RP
Evidenziare:

microscopio elettronico a scansione 800000X

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,

microscopio elettronico di ingrandimento

 

Risoluzione del microscopio elettronico a scansione di ingrandimento 8X-800000X 1.5-3nm con EBS, il EDS, EBSD e CL facoltativi

 

Il software operativo del microscopio elettronico M22005 può essere commutato in cinese/inglese con la disposizione modulare. Questo software support un'esposizione simultanea in tempo reale di 5 immagini, 4 canali più la finestra del CCD e funzioni ausiliarie potenti quale la sintesi dell'immagine di elettrone secondario ed immagine di elettrone a diffusione retrograda, misura multipunto di dimensione, annotazione del testo dell'immagine del microscopio elettronico, esposizione della mappa di vuoto, esposizione della finestra del CCD, ecc., per soddisfare le diverse esigenze degli utenti differenti. Funzioni automatiche: il filamento automatico, l'alta tensione, la messa a fuoco, l'adeguamento contrasto/di luminosità, l'astigmatismo, il fascio di elettroni che concentrano, la correzione automatica del cannone elettronico, la localizzazione del guasto, la ricostruzione facoltativa 3D, ecc. hanno conservato le immagini: 16384x16384pixel BMP, GIF, TIF, JPG, MNG, ICOCUR, TGA, PCX, JP2, JPC, PGX, RAS, PNM, SKA, SEM

 

Speciali:

 

- Ingrandimento 800000X massimo.

- Rilevazione di segnale: Ultra rivelatore elettronico secondario di vuoto (con la funzione di perotection del rivelatore).

- Tensione accelerante: 0~30KV, alta risoluzione di immagine.

- BSE/EDS/EBSD/CL è facoltativo, per analisi delle componenti.

- Sistema di alto vuoto.

- Una fase motorizzata Encentric di cinque asce.

 

Oggetto Specificazione M22005
Risoluzione 1.5nm@15kV (SE), 3nm@30kV (EBS)
Ingrandimento 8X~800000X, ingrandimento visualizzato: L'ingrandimento è definito con una dimensione 127mm*211mm dell'esposizione
Tensione accelerante 0~30kV

Rilevazione di segnale

 

Ultra rivelatore elettronico secondario di vuoto (con la funzione di perotection del rivelatore)
Cannone elettronico Cannone elettronico dell'emissione di campo di Schotty
Funzione automatica Fuoco, luminoso/contrasto, Stigmator, allineamento ecc
StageSystem/movimento Fase manuale standard
X: 0~80mm
Y: 0~60mm
Z: 0~50mm
R: 360°
T: -5°~90°
Max Sample Diameter: 175mm
Max Sample Height: 40mm
Fase motorizzata Encentric facoltativa
X: 0~80mm                                             X: 0~150mm
Y: 0~50mm                                             Y: 0~150mm
Z: 0~30mm                                             Z: 0~60mm
R: 360°                                                   R: 360°
T: -5°~70°                                               T: -5°~70°
Max Sample Diameter: 175mm              Max Sample Diameter: 340mm
Max Sample Height: 20mm                    Max Sample Height: 50mm
Sistema di vuoto 2 Ion Pump, 1TMP, 1RP
Rivelatore facoltativo BSEEDSEBSDCL
Accessori facoltativi Fase di Pre-vuoto Chamber/EBL/Cryo/manipolatore nano/pannello di controllo/sfera tracciante di tensione della fase

Nota:● significa la norma, ○ significa facoltativo

 

 

Galleria

 

EBS di risoluzione del microscopio elettronico a scansione di ingrandimento 8X-800000X 1.5-3nm 0

 

 

Software per l'elaborazione dell'immagine

 

EBS di risoluzione del microscopio elettronico a scansione di ingrandimento 8X-800000X 1.5-3nm 1

 

EBS di risoluzione del microscopio elettronico a scansione di ingrandimento 8X-800000X 1.5-3nm 2

 

 

EBS di risoluzione del microscopio elettronico a scansione di ingrandimento 8X-800000X 1.5-3nm 3

 

 

Dettagli di contatto
Phidix Motion Controls (Shanghai) Co., Ltd.

Persona di contatto: Johnny Zhang

Telefono: 86-021-37214606

Fax: 86-021-37214610

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